Cleaning Sheets for Probe Cards & Test Sockets & Chuck Cleaning Wafers (CCW)
บริษัทฯเป็นตัวแทนจำหน่ายสินค้าที่ใช้ทำความสะอาดอุปกรณ์ในอุตสาหกรรมต้นน้ำ เป็นผลิตภัณฑ์ที่ถูกคิดค้น วิจัยและพัฒนาโดยบริษัท International Test Solutions Inc. USA (ITS) ใช้ทำความสะอาด Probe card pin, Test socket, Wafer chuck ซึ่งสามารถทำความสะอาดได้ทั้งแบบ On-line และ Off-line ผลิตภัณฑ์สามารถช่วยทำความสะอาดให้อุปกรณ์ดังกล่าวได้อย่างมีประสิทธิภาพ และยืดอายุการใช้งานของอุปกรณ์ รวมถึงลดกำลังคนในการทำความสะอาด สามารถสั่งทำได้ตามความต้องการใช้งานเพื่อให้เหมาะกับอุปกรณ์ของลูกค้า ได้รับการยอมรับและถูกใช้งานในโรงงานผู้ผลิตชั้นนำของโลก
On-line Cleaning Application
- PCC : Semicondutor Card - Pin cleaning
- TCC : IC Package final test - Socket pi cleaning
- CCW : Semiconductor front end tool chuck cleaning
- PCBA testing: Pogo pin cleaning
Probe Clean™ โพรบ คลีน
•ไม่มีส่วนผสมของผงขัดเศษ (Non-abrasive) เพื่อกักเศษ
•ใช้ไดับทุกแอปพลิเคชั่น
Probe Polish™ โพรบ โพลีช
•มีส่วนผสมผงขัดไม่มาก ช่วยกักเก็บเศษบอนด์
•ใช้กับพินที่มีแอปพลิเคชั่นแบบเรียบ (Flat), เรดิอุส (Radius),
เซมิ เรดิอุส (Semi Radius) และเวอร์ติคัลเทคโนโลยี (Vertical)
Probe Scrub™ โพรบ สครับ
•มีส่วนผสมผงขัดแบบเบาบาง ช่วยกักเก็บเศษ
•ใช้กับทิปโพรบแบบเรียบ (flat tip probe) ทั้งในอุณหภูมิห้องและอุณหภูมิสูง
Probe Lap™ โพรบแล็ป
•เป็นแผ่นฟิล์มชนิดพิเศษสำหรับทำความสะอาด ออกแบบตามเข็มโพรบ (probe needle)